AFM and XPS study of nitrided TiO2 and SiO2–TiO2 sol–gel derived films
Autor: | Wicikowski, L. *, Kusz, B., Murawski, L., Susła, B., Szaniawska, K. |
---|---|
Zdroj: | In Vacuum July 1999 54(1-4):221-225 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |
Autor: | Wicikowski, L. *, Kusz, B., Murawski, L., Susła, B., Szaniawska, K. |
---|---|
Zdroj: | In Vacuum July 1999 54(1-4):221-225 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |