AFM and XPS study of nitrided TiO2 and SiO2–TiO2 sol–gel derived films

Autor: Wicikowski, L. *, Kusz, B., Murawski, L., Susła, B., Szaniawska, K.
Zdroj: In Vacuum July 1999 54(1-4):221-225
Databáze: ScienceDirect