Investigation of MBE grown inverted GaAs quantum dots

Autor: Nemcsics, Ákos, Pődör, Bálint, Tóth, Lajos, Balázs, János, Dobos, László, Makai, János, Csutorás, Márton, Ürmös, Antal
Zdroj: In Microelectronics Reliability April 2016 59:60-63
Databáze: ScienceDirect