Investigation of MBE grown inverted GaAs quantum dots
Autor: | Nemcsics, Ákos, Pődör, Bálint, Tóth, Lajos, Balázs, János, Dobos, László, Makai, János, Csutorás, Márton, Ürmös, Antal |
---|---|
Zdroj: | In Microelectronics Reliability April 2016 59:60-63 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |