Investigation of MBE grown inverted GaAs quantum dots
Autor: | Nemcsics, Ákos a, b, ⁎, Pődör, Bálint a, b, Tóth, Lajos b, Balázs, János b, Dobos, László b, Makai, János b, Csutorás, Márton a, Ürmös, Antal a |
---|---|
Zdroj: | In Microelectronics Reliability April 2016 59:60-63 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |