Investigation of MBE grown inverted GaAs quantum dots

Autor: Nemcsics, Ákos a, b, ⁎, Pődör, Bálint a, b, Tóth, Lajos b, Balázs, János b, Dobos, László b, Makai, János b, Csutorás, Márton a, Ürmös, Antal a
Zdroj: In Microelectronics Reliability April 2016 59:60-63
Databáze: ScienceDirect