Focused Ion Beam-Prepared Transmission Electron Microscopy Examination of Atmospheric Chemical Vapor-Infiltrated Silicon Carbide Morphology
Autor: | Zachary Tobin, Kenneth Petroski, Peter Kerns, Amjad Almansour, Joseph Grady, Steven L. Suib |
---|---|
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 2020 |
Předmět: | |
Zdroj: | ACS Omega, Vol 6, Iss 1, Pp 863-870 (2020) |
Druh dokumentu: | article |
ISSN: | 2470-1343 |
DOI: | 10.1021/acsomega.0c05442 |
Databáze: | Directory of Open Access Journals |
Externí odkaz: |