Focused Ion Beam-Prepared Transmission Electron Microscopy Examination of Atmospheric Chemical Vapor-Infiltrated Silicon Carbide Morphology
| Autor: | Zachary Tobin, Kenneth Petroski, Peter Kerns, Amjad Almansour, Joseph Grady, Steven L. Suib |
|---|---|
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2020 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | ACS Omega, Vol 6, Iss 1, Pp 863-870 (2020) |
| Druh dokumentu: | article |
| ISSN: | 2470-1343 |
| DOI: | 10.1021/acsomega.0c05442 |
| Databáze: | Directory of Open Access Journals |
| Externí odkaz: |
|