Knihovna AV ČR, v. v. i.
Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
English
Čeština
Instituce
Knihovna AV ČR
Souborný katalog AV ČR
Archeologický ústav Brno
Archeologický ústav Praha
Astronomický ústav
Biofyzikální ústav
Botanický ústav
Etnologický ústav
Filosofický ústav
Fyzikální ústav
Fyziologický ústav
Geofyzikální ústav
Geologický ústav
Historický ústav
Masarykův ústav
Matematický ústav
Orientální ústav
Psychologický ústav
Slovanský ústav
Sociologický ústav
Ústav analytické chemie
Ústav anorganické chemie
Ústav pro českou literaturu
Ústav dějin umění
Ústav fyziky atmosféry
Ústav fotoniky a elektroniky
Ústav fyzikální chemie J. H.
Ústav fyziky materiálů
Ústav geoniky
Ústav pro hydrodynamiku
Ústav chemických procesů
Ústav informatiky
Ústav pro jazyk český
Ústav jaderné fyziky
Ústav makromolekulární chemie
Ústav pro soudobé dějiny
Ústav přístrojové techniky
Ústav státu a práva
Ústav struktury a mechaniky hornin
Ústav teoretické a aplikované mechaniky
Ústav teorie informace a automatizace
Ústav výzkumu globální změny
Knihovna bude uzavřena od 23. 12. 2024 do 3. 1. 2025.
×
Všechna pole
Název
Autor
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Zahrnout EIZ
Domovská stránka
Very Large Scale Heterogeneous...
Jednotky
Navrhnout nákup titulu
Very Large Scale Heterogeneous Integration (VLSHI) and Wafer-Level Vacuum Packaging for Infrared Bolometer Focal Plane Arrays
Autor:
Nils Hoivik
,
Göran Stemme
,
Björn Samel
,
Per Ericsson
,
Niclas Roxhed
,
Andreas Fischer
,
Martin Bring
,
Gjermund Kittilsland
,
Fredrik Forsberg
,
Frank Niklaus
,
Adriana Lapadatu
Jazyk:
angličtina
Rok vydání:
2013
Předmět:
010302 applied physics
Microelectromechanical systems
Materials science
Scale (ratio)
Infrared
business.industry
Bolometer
02 engineering and technology
Vacuum packing
021001 nanoscience & nanotechnology
Condensed Matter Physics
01 natural sciences
Atomic and Molecular Physics
and Optics
Focal Plane Arrays
Electronic
Optical and Magnetic Materials
law.invention
Long wavelength
Optics
law
0103 physical sciences
Optoelectronics
Wafer
0210 nano-technology
business
Zdroj:
Infrared Physics & Technology
ISSN:
1350-4495
DOI:
10.1016/j.infrared.2013.05.006
Popis:
Imaging in the long wavelength infrared (LWIR) range from 8 to 14 μm is an extremely useful tool for non-contact measurement and imaging of temperature in many industrial, automotive and security a ...
Databáze:
OpenAIRE
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c1bcdfe7fb1bc8089d4f9159bf0421c4
Zobrazit plný text záznamu
Full Text from ScienceDirect
Jednotky
Popis
Exportovat záznam
Export to RIS
×
načítá se......