Light scattering analysis, an NDT optical method for studying the electroerosion phenomenon
Autor: | E N Hogert, M R Landau, R Aparicio, M F Ruiz Gale, N G Gaggioli |
---|---|
Rok vydání: | 2003 |
Předmět: | |
Zdroj: | Insight - Non-Destructive Testing and Condition Monitoring. 45:263-265 |
ISSN: | 1354-2575 |
DOI: | 10.1784/insi.45.4.263.54444 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |