Light scattering analysis, an NDT optical method for studying the electroerosion phenomenon

Autor: E N Hogert, M R Landau, R Aparicio, M F Ruiz Gale, N G Gaggioli
Rok vydání: 2003
Předmět:
Zdroj: Insight - Non-Destructive Testing and Condition Monitoring. 45:263-265
ISSN: 1354-2575
DOI: 10.1784/insi.45.4.263.54444
Databáze: OpenAIRE