He-ion Beam Imaging for Accurate Hardware Trojan Detection

Autor:	Olivia P. Paradis, Navid Asadizanjani, Haoting Shen, Nitin Varshney
Rok vydání:	2020
Předmět:	Ion beam business.industry Computer science Hardware Trojan business Instrumentation Computer hardware
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 26:188-190
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927620013732
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e10f02d89309b24029ebb75fe831e9e6 https://doi.org/10.1017/s1431927620013732 Zobrazit plný text záznamu