He-ion Beam Imaging for Accurate Hardware Trojan Detection
Autor: | Olivia P. Paradis, Navid Asadizanjani, Haoting Shen, Nitin Varshney |
---|---|
Rok vydání: | 2020 |
Předmět: | |
Zdroj: | Microscopy and Microanalysis. 26:188-190 |
ISSN: | 1435-8115 1431-9276 |
DOI: | 10.1017/s1431927620013732 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |
Pro tento záznam nejsou dostupné žádné jednotky.