He-ion Beam Imaging for Accurate Hardware Trojan Detection

Autor: Olivia P. Paradis, Navid Asadizanjani, Haoting Shen, Nitin Varshney
Rok vydání: 2020
Předmět:
Zdroj: Microscopy and Microanalysis. 26:188-190
ISSN: 1435-8115
1431-9276
DOI: 10.1017/s1431927620013732
Databáze: OpenAIRE
Pro tento záznam nejsou dostupné žádné jednotky.