Fatigue Life Prediction of Solder Joints with the Consideration of High-Temperature Degradation

Autor: Yasuhiro Naka, Ryosuke Kimoto, Kenichi Yamamoto, Hisashi Tanie, Kenya Kawano
Rok vydání: 2014
Předmět:
Zdroj: Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging. 17:123-131
ISSN: 1884-121X
1343-9677
DOI: 10.5104/jiep.17.123
Databáze: OpenAIRE