Fatigue Life Prediction of Solder Joints with the Consideration of High-Temperature Degradation
Autor: | Yasuhiro Naka, Ryosuke Kimoto, Kenichi Yamamoto, Hisashi Tanie, Kenya Kawano |
---|---|
Rok vydání: | 2014 |
Předmět: | |
Zdroj: | Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging. 17:123-131 |
ISSN: | 1884-121X 1343-9677 |
DOI: | 10.5104/jiep.17.123 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |