3. mezinárodní seminář o analýze dat rastrovací sondové mikroskopie = Third international workshop on data analysis of scanning probe microsocpy /

Hlavní autor:
Typ dokumentu: Článek
Jazyk: čeština
ISSN: 0447-6441
Zdroj: Jemná mechanika a optika : věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics: Roč. 50, č. 11-12 (2005), s. 322.
Předmět:
Externí odkaz: Získat plný text