Zobrazení polovodičových struktur metodou mikrovlnné skenovací mikroskopie = Imaging of semiconductive structures by scanning microwave microscopy /

Další autoři:
Kudělka, Josef ( Autor )
Typ dokumentu: Článek
Jazyk: čeština
ISSN: 0447-6441
Zdroj: Jemná mechanika a optika: Roč. 59, č. 1 (2014), s. 22-23.
Předmět:
skenovací mikroskopie
články
Externí odkaz: Získat plný text

Podobné jednotky