Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy /
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Typ dokumentu: | Kniha |
| Jazyk: |
angličtina |
| Vydavatel: |
Berlin :
Springer,
©2015.
|
| Edice: |
NanoScience and technology
|
| Předmět: | |