Zkoumání polovodičových heterostruktur metodou XSTM /

Skenovací tunelovací mikroskopie je prezentována jako velmi úspěšná metoda pro zkoumání krystalové stuktury epitaxních heterostruktur vypěstovaných metodami epitaxe z molekulárních svazků a epitaxe z plynné fáze. Ukázky v této práci se týkají polovodičových materiálů GaAs, AlAs, InAs a MnAs uspořáda...

Celý popis

Hlavní autor:
Další autoři:
Typ dokumentu: Článek
Jazyk: čeština
ISSN: 0009-0700
Zdroj: Československý časopis pro fyziku : založen r. 1872 jako Časopis pro pěstování matematiky a fysiky: Sv. 56, č. 2 (2006), s. 90-97.
Předmět:
Externí odkaz: Získat plný text