• Exportovat záznam
  • Export to MARC
  • Export to MARCXML
  • Export to RDF
  • Export to RIS
• Vytvořit citaci

Podobné jednotky

• Measurements of the index of refraction of glass at hugh temperatures /
  Autor: Peters, C. G.
  Vydáno: (1926)
• Measurements of the index of refraction of glass at high temperatures /
  Autor: Peters, C. G. 1880-
  Vydáno: (1926)
• The measurement of thickness /
  Autor: Keinath, George
  Vydáno: (1958)
• Measurement of the thickness of capacitor paper /
  Autor: Souder, Wilmer
  Vydáno: (1952)
• Dielectric films in microelectronics,.
  Vydáno: (1965)