Scanning electron microscopy, 1978 : an international review of advances in instrumentation, techniques, theory and physical applications of the scanning electron microscope. 1. /

Další autoři:
Johari, Om, 1940- ( Editor )
Korporace:
Typ dokumentu: Kniha
Jazyk: angličtina
Vydavatel: AMF O'Hare, Ill. : Scanning Electron Microscopy, [1979].
Předmět: