Characterization of crystal growth defects by X-ray methods /
| Další autoři: |
Tanner, Brian K.
(
Editor )
|
|---|---|
| Korporace: | |
| Typ dokumentu: | Kniha |
| Jazyk: |
angličtina |
| Vydavatel: |
New York :
Plenum Press,
1980.
|
| Edice: |
NATO ASI series. Series B: Physics ;
Vol. 63 |
| Předmět: | |
|
|