Souborný katalog AV ČR
Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
English
Čeština
Instituce
Knihovna AV ČR
Souborný katalog AV ČR
Archeologický ústav Brno
Archeologický ústav Praha
Astronomický ústav
Biofyzikální ústav
Botanický ústav
Etnologický ústav
Filosofický ústav
Fyzikální ústav
Fyziologický ústav
Geofyzikální ústav
Geologický ústav
Historický ústav
Masarykův ústav
Matematický ústav
Orientální ústav
Psychologický ústav
Slovanský ústav
Sociologický ústav
Ústav analytické chemie
Ústav anorganické chemie
Ústav pro českou literaturu
Ústav dějin umění
Ústav fyziky atmosféry
Ústav fotoniky a elektroniky
Ústav fyzikální chemie J. H.
Ústav fyziky materiálů
Ústav geoniky
Ústav pro hydrodynamiku
Ústav chemických procesů
Ústav informatiky
Ústav pro jazyk český
Ústav jaderné fyziky
Ústav makromolekulární chemie
Ústav pro soudobé dějiny
Ústav přístrojové techniky
Ústav státu a práva
Ústav struktury a mechaniky hornin
Ústav teoretické a aplikované mechaniky
Ústav teorie informace a automatizace
Ústav výzkumu globální změny
×
Všechna pole
Název
Autor
Předmět
Signatura
Čárový kód
ISBN/ISSN
Systémové číslo
Konspekt
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Domovská stránka
Semiconductor Reliability
Jednotky
Semiconductor Reliability
Typ dokumentu:
Kniha
Jazyk:
angličtina
Vydavatel:
New York :
Reinhold,
1961.
Jednotky
Popis
MARC21
Exportovat záznam
Export to MARC
Export to MARCXML
Export to RDF
Export to RIS
Vytvořit citaci
Podobné jednotky
Reliability Technology /
Autor: Green, A. E.
Vydáno: (1978)
Reliability Handbook
Vydáno: (1966)
Reliability Handbook
Vydáno: (1966)
Reliability and Risk : A Bayesian Perspective /
Autor: Singpurwalla, Nozer D.
Vydáno: (2006)
How Reliable is the Brain ? /
Autor: Asratjan, Ezras Asratovič, 1903-1981
Vydáno: (1966)
×
načítá se......
