Charged particle detection, diagnostic, and imaging : 30 July - 2 August 2001, San Diego, USA : /
Další autoři: |
Munro, Eric
(
Editor )
|
---|---|
Typ dokumentu: | Kniha |
Jazyk: |
angličtina |
Vydavatel: |
Bellingham :
SPIE,
c2001.
|
Edice: |
Proceedings - SPIE - the International Society for Optical Engineering;
vol. 4510 |
Předmět: | |