Měření šířky odezvové funkce kompaktního spektrometru s využitím spektrální dvousvazkové interference /
Spektrální interference dvojice svazků z mnohovidové laserové diody je využita k určení tří různých šířek odezvové funkce kompaktního spektrometru, na jehož vstupu jsou použita tři různá optická vlákna. Nejprve je z funkce viditelnosti prostorových interfrerenčních proužků, změřené v konfiguraci Mic...
| Hlavní autor: |
Hlubina, Petr
(
Autor )
|
|---|---|
| Typ dokumentu: | Článek |
| Jazyk: |
čeština |
| ISSN: | 0447-6441 |
| Zdroj: | Jemná mechanika a optika : věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis: Roč. 46, č. 1 (2001), s. 22-25. |
| Předmět: | |
| Externí odkaz: |
|
|
|