Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology /
| Hlavní autor: |
Klapetek, Peter
(
Autor )
|
|---|---|
| Další autoři: |
Fejfar, Antonín
(
Přispěvatel )
|
| Typ dokumentu: | Kniha |
| Jazyk: |
angličtina |
| Vydavatel: |
Amsterdam :
William Andrew is an Imprint of Elsevier,
2013.
|
| Vydání: | First edition |
| Edice: |
Micro & nano technologies series
|
| Předmět: | |