Journal of electron microscopy : new insights in all fields of microscopy.

Pokračuje jako: Denshi kenbikiō
Korporátní autor:
Typ dokumentu: Seriál
Jazyk: angličtina
ISSN: 0022-0744
Vydavatel: Oxford : Japanese Society of Microscopy, 1953-.
Předmět:
Externí odkaz: Získat plný text