Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis /
| Hlavní autor: |
Reimer, Ludwig, 1928-2001
(
Autor )
|
|---|---|
| Typ dokumentu: | Kniha |
| Jazyk: |
angličtina |
| Vydavatel: |
Berlin :
Springer Verlag,
1998.
|
| Vydání: | 2nd completely rev. and updated ed. |
| Edice: |
Springer series in optical sciences ;
vol. 45 |
| Předmět: | |
|
|