Seconddary ion mass spectometry : proceedings of a workshop on Scondary Ion Mass Spectometry and Ion Microprobe Mass Analysis held at the Nat. Bureau of Standards Gaithersburg, Md., September 16-18, 1974 /

Další autoři:
Typ dokumentu: Kniha
Jazyk: angličtina
Vydavatel: Washington : U. S. Government Printing Office, 1975.