TEM characterization of tungsten-implanted silicon - A study of a potential intermediate band solar cell material

Autor:	Sørhaug, Jørgen
Přispěvatelé:	Holmestad, Randi
Databáze:	NORA (Norwegian Open Research Archive)
Externí odkaz:	http://hdl.handle.net/11250/2625257 Zobrazit plný text záznamu