Charge trapping effects on mobility and threshold voltage instability in high-k gate stacks
| Autor: | Sim, Jang Hoan |
|---|---|
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2005 |
| Předmět: | |
| Druh dokumentu: | Diplomová práce |
| Popis: | text |
| Databáze: | Networked Digital Library of Theses & Dissertations |
| Externí odkaz: |
|