Improved Dynamic Behavior of p-GaN gate Normally-off GaN HEMT by novel Process technique

Autor:	Chia Hao Liu, 劉家豪
Rok vydání:	2019
Druh dokumentu:	學位論文 ; thesis
Popis:	107
Databáze:	Networked Digital Library of Theses & Dissertations
Externí odkaz:	http://ndltd.ncl.edu.tw/cgi-bin/gs32/gsweb.cgi/login?o=dnclcdr&s=id=%22107CGU05428007%22.&searchmode=basic Zobrazit plný text záznamu