Low Frequency Noise Characterization of Si/SiO2 Interface Properties in Strained MOSFETs
| Autor: | Cheng-WenKuo, 郭正聞 |
|---|---|
| Rok vydání: | 2011 |
| Druh dokumentu: | 學位論文 ; thesis |
| Popis: | 99 |
| Databáze: | Networked Digital Library of Theses & Dissertations |
| Externí odkaz: |
|
| Autor: | Cheng-WenKuo, 郭正聞 |
|---|---|
| Rok vydání: | 2011 |
| Druh dokumentu: | 學位論文 ; thesis |
| Popis: | 99 |
| Databáze: | Networked Digital Library of Theses & Dissertations |
| Externí odkaz: |
|