Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO2 mit Transmissionselektronenmikroskopie

Autor:	Wahl, Claudia.
Jazyk:	němčina
Rok vydání:	2002
Předmět:	Quarz
Popis:	Darmstadt, Techn. Universiẗat, Diss., 2002. Dateiformat: tar.gz, Dateien im PDF-Format.
Databáze:	Networked Digital Library of Theses & Dissertations
Externí odkaz:	http://elib.tu-darmstadt.de/diss/000197/container.tar.gz http://elib.tu-darmstadt.de/diss/000197 http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=96419743X Zobrazit plný text záznamu