Test produktionsbedingter Laufzeitfehler in hochintegrierten, digitalen Schaltungen

Autor: Meyer, Volker Hans-Walther.
Rok vydání: 2004
Předmět:
Popis: Bremen, Univ., Diss., 2003.
Computerdatei im Fernzugriff.
Databáze: Networked Digital Library of Theses & Dissertations