Defektenspektroskopie in hochreinem und dotierten CaF2 für optische Anwendungen im DUV

Autor:	Sils, Janis
Jazyk:	němčina
Zdroj:	kostenfrei.
Popis:	Osnabrück, Univ., Diss., 2008
Databáze:	Networked Digital Library of Theses & Dissertations
Externí odkaz:	http://d-nb.info/993683010/34 http://elib.ub.uni-osnabrueck.de/publications/diss/E-Diss880_thesis.pdf http://elib.ub.uni-osnabrueck.de/publications/diss/html/E-Diss880_HTML.html Zobrazit plný text záznamu