Structure determination by low energy electron diffraction of GaN films on 6H-SiC(0001) substrate by molecular beam epitaxy
Autor: | Ma, King-man, Simon., 馬勁民. |
---|---|
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 2006 |
Předmět: | |
Druh dokumentu: | PG_Thesis |
DOI: | 10.5353/th_b3653752 |
Popis: | published_or_final_version Physics Doctoral Doctor of Philosophy |
Databáze: | Networked Digital Library of Theses & Dissertations |
Externí odkaz: |