Structure determination by low energy electron diffraction of GaN films on 6H-SiC(0001) substrate by molecular beam epitaxy

Autor: Ma, King-man, Simon., 馬勁民.
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2006
Předmět:
Druh dokumentu: PG_Thesis
DOI: 10.5353/th_b3653752
Popis: published_or_final_version
Physics
Doctoral
Doctor of Philosophy
Databáze: Networked Digital Library of Theses & Dissertations