An optimal rule for patent damages under sequential innovation

Autor:	Chen, Yongmin, Sappington, David E.M.
Zdroj:	The RAND Journal of Economics, 2018 Jul 01. 49(2), 370-397.
Databáze:	JSTOR Journals
Externí odkaz:	https://www.jstor.org/stable/45147708 Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.