Sequential Tests and Estimators after Overrunning Based on Maximum-Likelihood Ordering

Autor:	Hall, W. J., Liu, Aiyi
Zdroj:	Biometrika, 2002 Sep 01. 89(3), 699-707.
Databáze:	JSTOR Journals
Externí odkaz:	https://www.jstor.org/stable/4140612 Zobrazit plný text záznamu