Measurement and Validation of Benchmark-Quality Thick-Target Tungsten X-Ray Spectra below 150 kVp

Autor:	Mercier, J. R., Kopp, D. T., McDavid, W. D., Dove, S. B., Lancaster, J. L., Tucker, D. M.
Zdroj:	Radiation Research, 2000 Nov 01. 154(5), 564-581.
Databáze:	JSTOR Journals
Externí odkaz:	https://www.jstor.org/stable/3580666 Zobrazit plný text záznamu