[Nonparametric Profile Monitoring by Mixed Effects Modeling]: Comment

Autor:	Woodall, William H., Birch, Jeffrey B., Du, Pang
Zdroj:	Technometrics, 2010 Aug 01. 52(3), 285-287.
Databáze:	JSTOR Journals
Externí odkaz:	https://www.jstor.org/stable/27867249 Zobrazit plný text záznamu