Long-Range Electronic Perturbations Caused by Defects using Scanning Tunneling Microscopy

Autor:	Mizes, H. A., Foster, J. S.
Zdroj:	Science, 1989 May 01. 244(4904), 559-562.
Databáze:	JSTOR Journals
Externí odkaz:	https://www.jstor.org/stable/1703008 Zobrazit plný text záznamu