Inference about Defects in the Presence of Masking

Autor:	Flehinger, Betty J., Reiser, Benjamin, Yashchin, Emmanuel
Zdroj:	Technometrics, 1996 Aug 01. 38(3), 247-255.
Databáze:	JSTOR Journals
Externí odkaz:	https://www.jstor.org/stable/1270608 Zobrazit plný text záznamu