Autor:	Zhang, Hanmin, Hu, Ming, Wang, Zhijie, He, Qingchun, Ye, Denghong
Zdroj:	Microelectronics International, 2017, Vol. 34, Issue 2, pp. 84-90.
Databáze:	Emerald Insight
Externí odkaz:	http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/MI-03-2016-0030 Zobrazit plný text záznamu