Environmental tests of embedded thin- and thick-film resistors in comparison to chip resistors

Autor: Steplewski, Wojciech, Dziedzic, Andrzej, Borecki, Janusz, Koziol, Grazyna, Serzysko, Tomasz
Přispěvatelé: Agata Skwarek, Dr
Zdroj: Circuit World, 2014, Vol. 40, Issue 1, pp. 7-12.
Databáze: Emerald Insight