Autor:	K.C. Tan, M. Xie, Y.N. Li
Přispěvatelé:	Christopher Seow
Zdroj:	The TQM Magazine, 2003, Vol. 15, Issue 3, pp. 164-172.
Databáze:	Emerald Insight
Externí odkaz:	http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/09544780310469262 Zobrazit plný text záznamu