Image properties in an aberration-corrected photoemission electron microscope

Autor:	Könenkamp, R., Jones, T., Elstner, J., Word, R., Rempfer, G., Dixon, T., Almaraz, L., Skoczylas, W.
Zdroj:	In Physics Procedia August 2008 1(1):505-511
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu