Influence of GaN substrate miscut on the XRD quantification of plastic relaxation in InGaN

Autor: Moneta, J., Kryśko, M., Domagala, J.Z., Grzanka, E., Muziol, G., Siekacz, M., Leszczyński, M., Smalc-Koziorowska, J.
Zdroj: In Acta Materialia 1 September 2024 276
Databáze: ScienceDirect