Effects of process parameters on trap distributions in organic semiconductors

Autor:	Hepp, A., von Malm, N., Schmechel, R., von Seggern, H.
Zdroj:	In Synthetic Metals 2003 138(1):201-207
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect