Artifact-free secondary ion mass spectrometry profiling of a full vertical cavity surface emitting laser structure
| Autor: | Michałowski, Paweł Piotr, Gębski, Marcin, Śpiewak, Patrycja, Kołkowski, Walery, Pasternak, Iwona, Głowadzka, Weronika, Wasiak, Michał, Czyszanowski, Tomasz, Strupiński, Włodzimierz |
|---|---|
| Zdroj: | In Measurement 15 February 2024 225 |
| Databáze: | ScienceDirect |
| Externí odkaz: |
|
Full Text from ScienceDirect