X-ray diffraction analysis of residual stresses in textured ZnO thin films
| Autor: | Dobročka, E., Novák, P., Búc, D., Harmatha, L., Murín, J. |
|---|---|
| Zdroj: | In Applied Surface Science 15 February 2017 395:16-23 |
| Databáze: | ScienceDirect |
| Externí odkaz: |
|
| Autor: | Dobročka, E., Novák, P., Búc, D., Harmatha, L., Murín, J. |
|---|---|
| Zdroj: | In Applied Surface Science 15 February 2017 395:16-23 |
| Databáze: | ScienceDirect |
| Externí odkaz: |
|
Full Text from ScienceDirect