RuO 2/SiO 2/Si and SiO 2/porous Si/Si interfaces analysed by SIMS
Autor: | Ćwil, Michał, Konarski, Piotr, Pająk, Michał, Bieniek, Tomasz, Kosiński, Andrzej, Kaczorek, Krzysztof |
---|---|
Zdroj: | In Applied Surface Science 2006 252(19):7058-7061 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |