RuO 2/SiO 2/Si and SiO 2/porous Si/Si interfaces analysed by SIMS

Autor: Ćwil, Michał, Konarski, Piotr, Pająk, Michał, Bieniek, Tomasz, Kosiński, Andrzej, Kaczorek, Krzysztof
Zdroj: In Applied Surface Science 2006 252(19):7058-7061
Databáze: ScienceDirect